- 新品推薦
- 靜電系列
- 脈沖發(fā)生器
- 功能材料系列
- 功率放大器系列
- 功能材料試驗(yàn)設(shè)備
-
工程塑料絕緣材料系列
-
絕緣材料測試儀器
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測...
-
塞貝克系數(shù)電阻測試儀
-
介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)
-
傳感器多功能綜合測試系統(tǒng)
-
絕緣電阻劣化（離子遷移）...
-
變溫極化耐擊穿測試儀(高...
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
耐壓絕緣測試儀
-
空間電荷測量系統(tǒng)
-
表面、體積電阻率測試儀(...
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
工頻介電常數(shù)測試儀
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測...
-
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)
-
長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
絕緣診斷測試系統(tǒng)
-
導(dǎo)電與防靜電體積電阻率測...
-
絕緣材料測試儀器
- 儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備
- 附件及配件
(Pyroelectric Measurement)
本系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。
薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；
塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五種夾具可選。
測試結(jié)果可得到：
熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線。
優(yōu)點(diǎn)：
一個(gè)系統(tǒng)就可以進(jìn)行薄膜及塊體材料的鐵電和熱釋電性能進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)，如傳感器和執(zhí)行器
單一軟件進(jìn)行外部硬件控制（如溫度控制器、高壓放大器、位移傳感器、示波器）和數(shù)據(jù)采集
遠(yuǎn)程接入和腳本控制
選件可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)庫連接（ODBC）方便對(duì)材料/設(shè)備進(jìn)行表征
針對(duì)用戶應(yīng)用和要求的硬件
升級(jí)服務(wù)，用戶支持
特點(diǎn)：
支持的硬件：
內(nèi)置或外置的高壓放大器（+/-100V到+/-10 kV）
塊體陶瓷樣品夾具
溫度控制器和溫度腔
位移傳感器（如激光干涉儀、電容或電感）
外置鎖相放大器或阻抗橋
軟件：
Windows 7操作系統(tǒng)
通過GPIB或以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程接入和腳本控制
通過ODBC接口的數(shù)據(jù)庫連接
測試數(shù)據(jù)通過ASCII形式輸出
測試數(shù)據(jù)交換通過aixPlorer軟件或Resonance Analyzer。
