產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：薄膜電容電容器溫度特性測量儀
產(chǎn)品型號(hào)：Huace
產(chǎn)品廠商：華測
產(chǎn)品價(jià)格：0
折扣價(jià)格：0
產(chǎn)品文檔：

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簡單介紹：

薄膜電容電容器溫度特性測量儀由華測儀器生產(chǎn)，是將環(huán)境試驗(yàn)箱與儀器相結(jié)合，效率采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道測量儀。儀器自動(dòng)評(píng)估測量高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性和電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)，從而評(píng)估其溫度特性。該設(shè)備精度高、穩(wěn)定可靠，通道數(shù)量多，具有多種測試模式，多種可選夾具，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。

詳情介紹：

薄膜電容電容器溫度特性測量儀

產(chǎn)品優(yōu)勢

至多64個(gè)通道的自動(dòng)測量
可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個(gè)通道的倍數(shù)，至多64個(gè)通道。
圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測量結(jié)果
收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查。
可從不同測試模式選擇
溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。測試可與溫度特性評(píng)價(jià)測試或恒定運(yùn)行測試相合。
溫度特性評(píng)估測試：在此測試模式下，自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步，頻率步數(shù)201步（范圍可定制）。
持續(xù)運(yùn)行測試：測試模式測量參數(shù)的變化隨時(shí)間推移自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。
頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)：試驗(yàn)?zāi)Ｊ皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí)，自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。

多種可選夾具適用于不同的試驗(yàn)樣本

除了SMD組件的專用夾具外，還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具。

環(huán)境試驗(yàn)箱(可定制)

產(chǎn)品參數(shù)

測量項(xiàng)目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)
測試方法：溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)（相對(duì)于溫度的變化）
恒定運(yùn)行檢測（相對(duì)于檢測時(shí)間的變化）
頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn) （相對(duì)于頻率的變化）
通道配置：8通道（標(biāo)準(zhǔn)）；至多64通道可擴(kuò)展8通道增量
測量方法：交流四端對(duì)測量
測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz
電容量(C)：50 pF ~ 5 mF
損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999
阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
測量儀器：LCR表（可按需選擇型號(hào)）
直流偏壓：0 ~ ±40V
溫度測量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成
頻率步長：201步（范圍可定制）
補(bǔ)償：短時(shí)補(bǔ)償，開放補(bǔ)償
環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)控制：溫度數(shù)據(jù)采集與測量和的溫度控制同步，具有RS-485功能的環(huán)境測試系統(tǒng)。
測量電纜：由聚四氟乙烯制成的同軸電纜（特性阻抗(Z)，50Ω，95 pF/m）

應(yīng)用領(lǐng)域

通信與信息技術(shù)：在通信設(shè)備和信息技術(shù)產(chǎn)品中，多通道電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)可以提供有效的測試方案，確保產(chǎn)品在各種溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。
電子材料：印刷電路板、通量、絕緣材料（樹脂、薄膜等）、介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）。

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產(chǎn)品名稱：薄膜電容電容器溫度特性測量儀

薄膜電容電容器溫度特性測量儀

產(chǎn)品優(yōu)勢

環(huán)境試驗(yàn)箱(可定制)

產(chǎn)品參數(shù)

應(yīng)用領(lǐng)域