產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
光電測試簡易探針臺由華測儀器生產(chǎn)，主要用于電學性能測試，該探針臺具有靈活性、低成本和高精度的特點，結(jié)構(gòu)緊湊、性價比高、穩(wěn)定性強、具備模塊化和可擴展性。其主要應用于半導體器件研發(fā)、光電子與顯示技術以及工業(yè)與工程應用，對于測試實驗中效率的提升、質(zhì)量控制與可靠性的驗證、提供實驗依據(jù)、優(yōu)化成本與節(jié)約資源具有重大意義。
詳情介紹：
光電測試簡易探針臺
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等2.可用于6英寸以內(nèi)樣品測試
3.同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，終線性移動
4.可放置于手套箱內(nèi)使用
5.形狀輕巧，操作方便，經(jīng)濟實惠
產(chǎn)品參數(shù)
型號：Huace-M4臺體
尺寸：4英寸
水平旋轉(zhuǎn)：可360°旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15°，精度0.1°，帶角度鎖死裝置
X-Y 移動行程：2英寸*3英寸
X-Y 移動精度：10μm
樣品固定：真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán)
針座平臺：左右各一個針座平臺，至多可放置 6 個探針座
背電極測試：樣品臺電學獨立懸空，4mm 插孔可接背電極
外形尺寸：400mm長*380mm寬*500mm 高
重量：約20kg
可選附件（根據(jù)客戶要求定制）：
加熱臺
顯示器
轉(zhuǎn)接頭
射頻測試配件
屏蔽箱
光學平臺
鍍金卡盤
光電測試配件
應用領域
1.半導體器件研發(fā)2.光電子與顯示技術
3.工業(yè)與工程應用
